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Domaines
Simuler pour améliorer les performances des jauges à ionisation

La fabrication de semi-conducteurs, la recherche en physique des particules et bien d'autres procédés s’effectuent dans des conditions de vide poussé (HV) voire d’ultra vide (UHV). Pour améliorer la mise au point de ses jauges à ionisation, nécessaires aux mesures de pressions en environnement HV/UHV, le fabricant d’instrument liechtensteinois INFICON a utilisé la modélisation multiphysique afin d’affiner et tester un impressionnant nouveau design.

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